Pourquoi utiliser le scanner NEXIO de mesures CEM en champ proche ?
#Pourquoi utiliser le #scanner NEXIO de mesures #CEM en champ proche ?
🎯 Analyser la conception de #circuits_électroniques et #équipements en évaluant leur comportement CEM :
☑️ Examiner les cas de non-respect de la RS et de l’RE observés en identifiant les sources spécifiques de #perturbation
☑️ Évaluer les changements de #conception ou l’#obsolescence des #composants
☑️ Caractériser la fuite d’un #blindage
☑️ Optimiser le placement IC/PCB ou #PCB/enveloppe
☑️ Consolider, soutenir, fournir la modélisation et la #simulation numérique
🎯 Aider au #design :
☑️ Analyse de risques
☑️ Analyse le design
☑️ Vérification des règles de design CEM
☑️ Optimisation des conceptions
☑️ Tests de pré-qualification
En savoir plus sur le système de scanner champ proche...
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